荧光检测样品池及其制备方法
李颖 胡书新 马丽 刘仁威 范苏娜 李明 · 2016
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专利权人:
中国科学院物理研究所
申请人:
中国科学院物理研究所
通讯地址:
100190北京市海淀区中关村南三街8号
专利类型:
发明专利
专利号:
CN105572046A
公开日期:
2016.05.11
摘要:
本发明提供了一种荧光检测样品池及其制备方法,该荧光检测样品池包括第一透明衬底;第二透明衬底,所述第二透明衬底上依次具有金属薄膜和氧化石墨烯,所述第二透明衬底和第一透明衬底粘结在一起且限定了用于容纳样品的容纳空间,所述金属薄膜和氧化石墨烯位于所述第一透明衬底和第二透明衬底之间;所述第一透明衬底或第二透明衬底具有与所述容纳空间相连通的进样孔,所述第一透明衬底或第二透明衬底具有与所述容纳空间相连通的出样孔.本发明的荧光检测样品池能够使用传统显微镜中的照明光路和成像光路,不限于入射光波长和荧光标记种类,成本低,且纵向分辨率为纳米级.
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