一种基于X射线衍射的材料微结构在线检测系统
何飞 陈冷 杨荃 徐金梧 苏皓 · 2016
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专利权人:
北京科技大学
申请人:
北京科技大学
通讯地址:
100083北京市海淀区学院路30号
专利类型:
发明专利
专利号:
201510611851.4
公开日期:
2016.01.06
摘要:
本发明提供一种基于X射线衍射的材料微结构在线检测系统,系统包括:检测台、支撑架、X射线发射器、X射线探测器和控制处理器,支撑架设置在检测台上方,支撑架为半圆弧支撑架,支撑架底部与检测台翻转连接,半圆弧支撑架设置有半圆弧轨道,X射线发射器和X射线探测器通过半圆弧轨道与半圆弧支撑架滑动连接,X射线发射器和X射线探测器与控制处理器连接。通过设置X射线发射器、X射线探测器和控制处理器,利用X射线衍射在线检测材料微结构,能够提高材料微结构控制的准确度,方便改变X射线发射器和X射线探测器间的夹角,从而实现各种角度的X射线照射和探测,提高材料微结构检测的灵活性和适应性。
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