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TVS二极管HEMP响应特性统计分析
杜鸣心
石立华
周颖慧
富志凯
· 2015
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阅读量:241
TVS二极管
HEMP
累积效应
损伤概率
损毁概率
期刊名称:
环境技术 2015 年 04 期
摘要:
针对瞬态电压抑制(TVS)二极管对高空核爆炸产生的电磁脉冲(HEMP)的防护问题,研究了不同类型脉冲传导注入至被测电路,分别测得了限幅电压、损伤阈值电压、损毁阈值电压和损毁阈值电流,计算出了不同类型脉冲作用下损伤概率和损毁概率。结果表明被测电路受到了注入脉冲次数累积效应的影响,脉冲次数越多,其阈值电压和阈值电流会越低。研究结果为微电子设备的电磁脉冲防护及HEMP防护中的器件选择提供了参考。
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