一种面形检测装置与检测方法
杨福桂 李明 盛伟繁 刘鹏 · 2016
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专利权人:
中国科学院高能物理研究所
申请人:
中国科学院高能物理研究所
通讯地址:
100049北京市石景山区玉泉路19号(乙)
专利类型:
发明专利
专利号:
201610412688.3
公开日期:
2016.10.26
摘要:
本申请公开了一种面形检测装置与检测方法,面形检测装置包括激光光源组件、波前编码器、分光器件、透镜、阵列探测器以及控制模块。面形检测方法:将激光光源组件发出的光照射波前编码器,经波前编码器调制的出射光透过分光器件、透镜成像至待测区一表面,该表面反射的光经过透镜、分光器件进入阵列探测器;控制模块控制波前编码器以在待测区一表面上产生顺序移动的光斑;阵列探测器记录并保存对应每个采样点的光斑的图像,将接收到的光线转换为电信号;控制模块对电信号进行相应的处理并获得待测物体表面的倾斜角度。本发明实现高精度小范围和低精度大范围两种模式之间的切换;可测量二维物体,适合在线检测安装在同步辐射光束线上的光学元件。
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