近场卷积信号处理系统

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近场卷积信号处理系统

李明孙浩邓晔石暖暖祝宁华 · 2016

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专利权人：

中国科学院半导体研究所

申请人：

中国科学院半导体研究所

通讯地址：

100083北京市海淀区清华东路甲35号

专利类型：

发明专利

专利号：

201510996201.6

公开日期：

2016.06.08

摘要：

本发明公开了一种近场卷积信号处理系统，包括：宽谱光源、马赫曾德干涉仪、波形整形器、马赫曾德调制器、任意波形发生器、色散单元、光电探测器。该系统利用近场时域频域变换技术能够有效的消除在时域频域卷积技术中对色散量要求苛刻的问题，即色散量既要大到可以满足远场条件同时又不能大到影响调制上的信号，而将近场频域时域技术应用到其中可以解决该问题，并且所需要的色散量不大，有利于实现更多的信号处理功能。

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